x線回折は、頻繁にXRDと略され、結晶材料の構造を分析するために使用される非破壊試験方法です。

XRD分析は、結晶構造の研究を通じて、材料中に存在する結晶相を同定し、それによって化学組成情報を明らかにするために使用されます。

XRD分析 フェーズの識別は、取得したデータを参照データベースのデータと比較することによって達成されます。

x線回折は、鉱物、ポリマー、腐食生成物、および未知の材料を評価するのに有用である。 ほとんどの場合、元素で分析された試料は、微細に粉砕された粉末として調製された試料を用いて粉末回折によって分析される。

XRD分析の実行

このテスト方法は、x線ビームをサンプルに向け、散乱強度を出射方向の関数として測定することによって実行されます。 ビームが分離されると、回折パターンとも呼ばれる散乱は、サンプルの結晶構造を示します。 次に，ｒｉｅｔｖｅｌｄ微細化技術を用いて，観測されたパターンを提供する可能性が最も高い結晶構造を特性化した。

X線回折（XRD）を用いた残留応力測定（RSM）

エレメントは、二十年以上にわたり、定期的に保持応力測定を行い、この分野で豊富な経験を得てきました。 私達の残留圧力の測定の専門家はX線回折を使用してRSMを測定するRIGAKUの圧力の検光子の使用を組み込む多くの革新的なプロシージャを開発した。 私達はあなたのプロジェクトのために残留圧力の測定を使用する可能性を論議して利用できる。

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