difração de raios X, frequentemente abreviada como XRD, é um método de ensaio não destrutivo utilizado para analisar a estrutura dos materiais cristalinos. a análise XRD, através do estudo da estrutura cristalina, é utilizada para identificar as fases cristalinas presentes num material, revelando assim informações sobre a composição química. A identificação das fases é obtida por comparação dos dados adquiridos com os dados das bases de dados de referência. a difração de raios X é útil para avaliar minerais, polímeros, produtos de corrosão e materiais desconhecidos. Na maioria dos casos, as amostras analisadas no elemento são analisadas por difração de pó usando amostras preparadas como pós finamente moídos. o presente método de ensaio é realizado direccionando um feixe de raios x para uma amostra e medindo a intensidade dispersa em função da direcção de saída. Uma vez que o feixe é separado, a dispersão, também chamada de padrão de difração, indica a estrutura cristalina da amostra. A técnica de refinamento de Rietveld é então usada para caracterizar a estrutura cristalina que provavelmente forneceu o padrão observado.

medição de esforço Residual (RSM) usando difração de raios X (XRD)

por mais de vinte anos, o elemento realizou medições de esforço retidas regularmente e ganhou vasta experiência neste campo. Nossos especialistas em medição de estresse residual desenvolveram muitos procedimentos inovadores incorporando o uso de um analisador de estresse RIGAKU para medir RSM usando difração de raios x. Estamos disponíveis para discutir as possibilidades de usar medições de estresse residual para seus projetos.os nossos peritos envolvidos estão disponíveis para analisar as suas necessidades específicas e ajudar a determinar como a difração de raios-x pode fazer do seu projecto um sucesso.

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