La diffraction des rayons X, souvent abrégée en XRD, est une méthode d’essai non destructif utilisée pour analyser la structure des matériaux cristallins.

L’analyse XRD, par l’étude de la structure cristalline, permet d’identifier les phases cristallines présentes dans un matériau et de révéler ainsi des informations de composition chimique. L’identification des phases est obtenue par comparaison des données acquises avec celles des bases de données de référence.

La diffraction des rayons X est utile pour évaluer les minéraux, les polymères, les produits de corrosion et les matériaux inconnus. Dans la plupart des cas, les échantillons analysés au niveau de l’Élément sont analysés par diffraction de poudre à l’aide d’échantillons préparés sous forme de poudres finement broyées.

Analyse XRD

Cette méthode d’essai est réalisée en dirigeant un faisceau de rayons X sur un échantillon et en mesurant l’intensité diffusée en fonction de la direction sortante. Une fois le faisceau séparé, la dispersion, également appelée motif de diffraction, indique la structure cristalline de l’échantillon. La technique de raffinement de Rietveld est ensuite utilisée pour caractériser la structure cristalline qui a probablement fourni le motif observé.

Mesure des contraintes résiduelles (RSM)par Diffraction des rayons X

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